Current fluctuation in single-hole transport through a two-dimensional Si multidot
Current fluctuation in single-hole transport through a two-dimensional Si multidot
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通过二维硅多点的单空穴传输的电流波动
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Michiharu Tabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ratno Nuryadi;Hiroya Ikeda;Yasuhiko Ishikawa;Michiharu Tabe
