半導体中の電子スピンへの光量子状態転写のプロセストモグラフィ測定実験
半導体中の電子スピンへの光量子状態転写のプロセストモグラフィ測定実験
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半导体中光子状态转移到电子自旋的过程层析成像测量实验
DOI:
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发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
稲垣卓弘,小坂英男,三森康義,枝松圭一,力武克彰
中科院分区:
文献类型:
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作者:
稲垣卓弘,小坂英男,三森康義,枝松圭一,力武克彰