Density profile reconstruction using HIBP in ECRH plasmas in the TJ-II stellarator
Density profile reconstruction using HIBP in ECRH plasmas in the TJ-II stellarator
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在 TJ-II 仿星器中使用 ECRH 等离子体中的 HIBP 进行密度分布重建
DOI：
10.1088/1748-0221/14/09/c09033
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发表时间：
2019
影响因子：
1.3
通讯作者：
V. Shevelko
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
P. Khabanov;L. Eliseev;A. Melnikov;M. Drabinskiy;C. Hidalgo;N. K. Kharchev;A. Chmyga;A. Kozachek;I. Pastor;J. D. de Pablos;A. Cappa;V. Shevelko
重离子束探测 (HIBP) 是一种用于等离子体电势测量的独特工具。在 TJ-II 仿星器（CIEMAT，马德里，西班牙）中，HIBP 能够将样品体积（SV）从等离子体柱的低场侧（LFS）通过等离子体中心移动到高场侧（HFS），因此可以在一次发射期间获得等离子体电势 φ 和次级束流总电流 Itot 径向分布的时间演化。 Itot 与 SV 处的等离子体密度 ne 成正比，它受到沿束流轨迹的衰减因素的影响。该工作展示了根据 HIBP Itot 信号重建径向轮廓的方法。使用该方法，首次在电子回旋共振加热（ECRH）的 TJ-II 区域中根据 HIBP Itot 信号重建 ne 径向剖面，线平均电子密度 n̄e 高达 0.8 · 1019 m−3。重建的 ne(ρ) 剖面与汤姆森散射数据一致。
Heavy Ion Beam Probing (HIBP) is a unique tool for plasma potential measurements. In the TJ-II stellarator (CIEMAT, Madrid, Spain) HIBP is capable to move the sample volume (SV) from Low Field Side (LFS) of a plasma column through the plasma center to High Field Side (HFS), so the time evolution of plasma potential φ and secondary beam total current Itot radial profiles can be obtained during one shot. Itot is proportional to the plasma density ne at the SV, it is affected by attenuation factors along the beam trajectory. The work shows the method for the ne radial profile reconstruction from HIBP Itot signal. Using the method, for the first time ne radial profiles are reconstructed from HIBP Itot signal in TJ-II regimes with electron cyclotron resonance heating (ECRH) and the line-averaged electron density n̄e up to 0.8 · 1019 m−3. Reconstructed ne(ρ) profiles are consistent with Thomson scattering data.
DOI：
10.1063/1.3491317
发表时间：
2010-10
期刊：
The Review of scientific instruments
影响因子：
--
作者：
A. Shimizu;T. Ido;S. Nakamura;K. Toi;M. Nishiura;S. Kato
通讯作者：
A. Shimizu;T. Ido;S. Nakamura;K. Toi;M. Nishiura;S. Kato
影响因子：
8.6
作者：
Fujisawa, A;Itoh, K;Diamond, PH
通讯作者：
Diamond, PH
使用重离子束探针观察内部相干模式结构
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
Review of Science Instruments 77
影响因子：
--
作者：
S. Ohshima;A. Fujisawa;A. Shimizu and H. Nakano
通讯作者：
A. Shimizu and H. Nakano