K. Taketosi, F. Andoh: "The noise reduction effect of amplified metal-oxide-semiconductor imager device" Jpn. J. APPL. Phyo.34NO. 7A. 3570-3575 (1995)
K. Taketosi, F. Andoh: "The noise reduction effect of amplified metal-oxide-semiconductor imager device" Jpn. J. APPL. Phyo.34NO. 7A. 3570-3575 (1995)
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K. Taketosi、F. Andoh：“放大金属氧化物半导体成像装置的降噪效果”Jpn。
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