Novel Thermographic Method for Characterizing Transformation Temperatures of Thin Film Shape Memory Alloys Aimed at Combinatorial Approach
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表征薄膜形状记忆合金转变温度的新型热成像方法旨在组合方法
DOI：
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发表时间：
2011
影响因子：
1.5
通讯作者：
Seiichi Hata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuko Aono;Junpei Sakurai;Akira Shimokohbe;Seiichi Hata
