T.Ohkawa,Y.Yamaguchi,O.Sakata et al.: "Anomalous dispersion X-ray reflectometry for model-independent determination of Al/C multilayer structures" Physica B. (in press).
T.Ohkawa,Y.Yamaguchi,O.Sakata et al.: "Anomalous dispersion X-ray reflectometry for model-independent determination of Al/C multilayer structures" Physica B. (in press).
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T.Ohkawa、Y.Yamaguchi、O.Sakata 等人：“用于模型独立测定 Al/C 多层结构的反常色散 X 射线反射计”Physica B.（出版中）。
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