Thickness Dependence of Secondary-electron Yield from Carbon Foils Bombarded with 62.5-300-keV/u H2+ and C2+ Ions
Thickness Dependence of Secondary-electron Yield from Carbon Foils Bombarded with 62.5-300-keV/u H2+ and C2+ Ions
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62.5-300-keV/u H2 和 C2 离子轰击碳箔的二次电子产率的厚度依赖性
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Maeda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Narumi;Y. Takahashi;A. Chiba;Y. Saitoh;K. Yamada;N. Ishikawa;H. Sugai;Y. Maeda
