On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits
On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits
复制标题
关于在时序电路的测试序列中发现不关心的问题
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoshinobu Higami
中科院分区：
文献类型：
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作者：
池田亮;市川周一;Yoshinobu Higami
