Hideki Maruyama: "Low-coherence interferometer system for the simultaneous measurement of refractive index and thickness"Applied Optics. Vol.41No.7. 1315-1322 (2002)
Hideki Maruyama: "Low-coherence interferometer system for the simultaneous measurement of refractive index and thickness"Applied Optics. Vol.41No.7. 1315-1322 (2002)
复制标题
Hideki Maruyama：“用于同时测量折射率和厚度的低相干干涉仪系统”应用光学。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
