Michio Hibino: "Formation of Fine Electron Probe by Correction of the Spherical Aberration and Its Application to STEM" Proc.1st China-Japan Joint Symposium on Microbeam Analysis. 33-38 (1994)
Michio Hibino: "Formation of Fine Electron Probe by Correction of the Spherical Aberration and Its Application to STEM" Proc.1st China-Japan Joint Symposium on Microbeam Analysis. 33-38 (1994)
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日比野道雄：“通过球差校正形成精细电子探针及其在 STEM 中的应用”，第一届中日微束分析联合研讨会论文集。
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