光熱偏向分光法によるGaNバルク評価
光熱偏向分光法によるGaNバルク評価
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通过光热偏转光谱法评估 GaN 块体
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
本田徹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
角谷正友;中野由崇;小出康夫;本田徹
