M.Tabuchi, H.Kyouzu, M.Takemi, Y.Takeda: "Composition dependences of InP/InGaAsP/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements"Appl.Surf.Schi. 216. 526-531 (2003)
M.Tabuchi, H.Kyouzu, M.Takemi, Y.Takeda: "Composition dependences of InP/InGaAsP/InP interface structures analyzed by X-ray CTR scattering measurements"Appl.Surf.Schi. 216. 526-531 (2003)
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M.Tabuchi、H.Kyouzu、M.Takemi、Y.Takeda：“通过 X 射线 CTR 散射测量分析 InP/InGaAsP/InP 界面结构的成分依赖性”Appl.Surf.Schi。
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