Ｘ線２次元検出器による粗大粒のひずみ測定の研究
Ｘ線２次元検出器による粗大粒のひずみ測定の研究
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二维X射线探测器粗晶应变测量研究
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鈴木賢治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Chikahiko Mitsui*;Toshihiro Okamoto;Katsumasa Nakahara;Masakazu Yamagishi;Hiroyuki Matsui;Takanari Ueno;Yuji Tanaka;Masafumi Yano;Takeshi Matsushita;Junshi Soeda;Yuri Hirose;Hiroyasu Sato;Akihito Yamano;Jun Takeya;高野叶多，金子遼太，小林謙一，小山秀夫;鈴木賢治
