機能性デバイスのオペランド観察に必要となる電圧印加用TEM試料作製技術とその応用
機能性デバイスのオペランド観察に必要となる電圧印加用TEM試料作製技術とその応用
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功能器件操作观察所需的电压施加TEM样品制备技术及其应用
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山本和生，穴田智史，野村優貴
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Hashimoto;N. Yamato;M. Matsuya;H. Niioka;and J. Miyake;佐々木成朗;山本和生，穴田智史，野村優貴
