Watching nanoclusters nucleate
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DOI：
10.1038/nmat743
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发表时间：
2002-10
期刊：
影响因子：
41.2
通讯作者：
T. D. de la Rubia;G. Gilmer
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. D. de la Rubia;G. Gilmer
能够识别晶格中单个原子或缺陷的透射电子显微镜可以为材料科学家提供很多帮助。它现在已被用于研究半导体中纳米团簇成核和生长的早期阶段。
A transmission electron microscope capable of identifying individual atoms or defects in a crystal lattice has much to offer materials scientists. It has now been used to study the early stages of nanocluster nucleation and growth in semiconductors.