Gate voltage dependence of nuclear spin relaxation in an impurity-doped semiconductor quantum well
Gate voltage dependence of nuclear spin relaxation in an impurity-doped semiconductor quantum well
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掺杂半导体量子阱中核自旋弛豫的栅极电压依赖性
DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
H.Ohno
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
M.Ono;H.Kobayashi;S.Matsuzaka;Y.Ohno;H.Ohno
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影响因子:
3.7
作者:
G. Salis;D. Awschalom;Y. Ohno;H. Ohno
通讯作者:
G. Salis;D. Awschalom;Y. Ohno;H. Ohno
影响因子:
8.6
作者:
H. Sanada;S. Matsuzaka;Ken Morita;C. Hu;Y. Ohno;H. Ohno
通讯作者:
H. Sanada;S. Matsuzaka;Ken Morita;C. Hu;Y. Ohno;H. Ohno
DOI:
--
发表时间:
2003
期刊:
Appl. Phys. Lett. 82
影响因子:
--
作者:
T.Machida;T.Yamazaki;K.Ikushima;S.Komiyama;小宮山 進;T.Machida
通讯作者:
T.Machida
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
--
作者:
T. Ota;G. Yusa;N. Kumada;S. Miyashita;T. Fujisawa;Y. Hirayama
通讯作者:
Y. Hirayama
影响因子:
8.6
作者:
Kondo, Y.;Ono, M.;Ohno, H.
通讯作者:
Ohno, H.