Gate voltage dependence of nuclear spin relaxation in an impurity-doped semiconductor quantum well

Gate voltage dependence of nuclear spin relaxation in an impurity-doped semiconductor quantum well
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掺杂半导体量子阱中核自旋弛豫的栅极电压依赖性

DOI:
--
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发表时间:
2010
期刊:
Applied Physics Letters 96
影响因子:
--
通讯作者:
H.Ohno
H.Ohno
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
M.Ono;H.Kobayashi;S.Matsuzaka;Y.Ohno;H.Ohno

文献摘要

参考文献

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