電圧印加非接触原子間力分光法による表面状態解析をめざした超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡の開発
電圧印加非接触原子間力分光法による表面状態解析をめざした超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡の開発
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开发超高真空低温扫描探针显微镜，利用电压施加非接触原子力光谱进行表面状况分析
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
新井 豊子
中科院分区：
文献类型：
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作者：
板 橋敦;中山 智祐;新井 豊子;富取 正彦;村田 英幸;富取 正彦;M. Tomitori;新井 豊子
