低電圧CMOSディジタル回路のプロセス・温度バラツキ補正アーキテクチャ構築

低電圧CMOSディジタル回路のプロセス・温度バラツキ補正アーキテクチャ構築
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低压CMOS数字电路的工艺/温度变化校正架构的构建

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
雨宮好仁
雨宮好仁
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
次田祐輔;上野憲一;廣瀬哲也;浅井哲也;雨宮好仁

文献摘要

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