Measurement method of microwave surface resistance of high Tc superconductive thin films
Measurement method of microwave surface resistance of high Tc superconductive thin films
复制标题
DOI：
10.1016/s0921-4534(02)02065-8
复制
发表时间：
2003-04
影响因子：
1.7
通讯作者：
Yingmin Zhang;Zhengxiang Luo;Kai-Fu Yang;Qishao Zhang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yingmin Zhang;Zhengxiang Luo;Kai-Fu Yang;Qishao Zhang
