低温着色抵抗性遺伝子Icおよび毛茸色遺伝子Tの集積は白目黄ダイズにおいて高度の低温裂開抵抗性をもたらす
低温着色抵抗性遺伝子Icおよび毛茸色遺伝子Tの集積は白目黄ダイズにおいて高度の低温裂開抵抗性をもたらす
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低温抗着色基因Ic和毛菇着色基因T的积累导致锡黄大豆具有高度的抗低温开裂能力。
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山口直矢・鈴木千賀・山下陽子・千田峰生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Senda;M.;M. Kawasaki;M. Hiraoka;K. Yamashita;H. Maeda and N. Yamaguchi;山口直矢・鈴木千賀・山下陽子・千田峰生
