直接成長グラフェンFETを用いたK+イオンの特異検出
直接成長グラフェンFETを用いたK+イオンの特異検出
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使用直接生长石墨烯 FET 特异性检测 K+ 离子
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村 篤志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
曇 艶;玉木 克明;徳永 悠輝;久保野 敦史;松原 亮介;中村 篤志
