半導体光導波路による微細構造の電子状態の検出に関する研究
半導体光導波路による微細構造の電子状態の検出に関する研究
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半导体光波导微结构电子态检测研究
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
川畑将志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Watanabe;K. Iwai;and Y. Matsuura;山口雅史;K. Iwai;川畑将志
