On the adoption of MC/DC and control-flow adequacy for a tight integration of program testing and statistical fault localization
On the adoption of MC/DC and control-flow adequacy for a tight integration of program testing and statistical fault localization
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关于采用 MC/DC 和控制流充分性来实现程序测试和统计故障定位的紧密集成
DOI：
10.1016/j.infsof.2012.10.001
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发表时间：
2013-05
影响因子：
3.9
通讯作者：
Zhang, Zhenyu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Jiang, Bo;Zhai, Ke;Chan, W. K.;Tse, T. H.;Zhang, Zhenyu
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DOI：
10.1145/1390630.1390652
发表时间：
2008-07
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
D. Jeffrey;Neelam Gupta;Rajiv Gupta
通讯作者：
D. Jeffrey;Neelam Gupta;Rajiv Gupta
DOI：
10.1145/1595696.1595705
发表时间：
2009-08
期刊：
Proceedings of the 7th joint meeting of the European software engineering conference and the ACM SIGSOFT symposium on The foundations of software engineering
影响因子：
--
作者：
Zhenyu Zhang;W. Chan;T. Tse;Bo Jiang;Xinming Wang
通讯作者：
Zhenyu Zhang;W. Chan;T. Tse;Bo Jiang;Xinming Wang
DOI：
10.1109/ase.2009.77
发表时间：
2009-11
期刊：
2009 IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering
影响因子：
--
作者：
Bo Jiang;Zhenyu Zhang;W. Chan;T. Tse
通讯作者：
Bo Jiang;Zhenyu Zhang;W. Chan;T. Tse
影响因子：
7.4
作者：
Jones, JA;Harrold, MJ
通讯作者：
Harrold, MJ
影响因子：
1.9
作者：
Sebastian G. Elbaum;G. Rothermel;Satya Kanduri;Alexey G. Malishevsky
通讯作者：
Sebastian G. Elbaum;G. Rothermel;Satya Kanduri;Alexey G. Malishevsky