Alloying and electrical properties of evaporated Cu–In bilayer thin films
Alloying and electrical properties of evaporated Cu–In bilayer thin films
复制标题
蒸发Cu-In双层薄膜的合金化和电学性能
DOI：
10.1016/s0040-6090(98)01142-0
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
S. Baba
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Nakano;Takehiro Suzuki;N. Ohnuki;S. Baba
