The Development of a Non-Destructive Analysis System with Negative Muon Beam for Industrial Devices at J-PARC MUSE
The Development of a Non-Destructive Analysis System with Negative Muon Beam for Industrial Devices at J-PARC MUSE
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J-PARC MUSE 开发用于工业设备的负 μ 子束无损分析系统
DOI：
10.7566/jpscp.8.036016
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yasuhiro Miyake
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Motonobu Tampo;Kouji Hamada;Naritoshi Kawamura;Makoto Inagaki;Takashi U. Ito;Kenji M. Kojima;Kenya M. Kubo;Kazuhiko Ninomiya;Patrick Strasser;Go Yoshida;Yasuhiro Miyake
