Scanning ion conductance microscopy with capacitance compensation using a double barrel nanopipette for improving current detection response
Scanning ion conductance microscopy with capacitance compensation using a double barrel nanopipette for improving current detection response
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使用双筒纳米移液器进行具有电容补偿的扫描离子电导显微镜，以改善电流检测响应
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and F. Iwata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Fukuzawa;K. Nakazawa;and F. Iwata
