Takahiro Namazu, Yoshitada Isono, Takeshi Tanaka: "Plastic Deformation of Nanometric Single Crystal Silicon Wire in AFM Bending Test at Intermediate Temperatures"Journal of Micro electro mechanical systems. IEEE/ASME, Vol.11, No.2. 125-135 (2002)
Takahiro Namazu, Yoshitada Isono, Takeshi Tanaka: "Plastic Deformation of Nanometric Single Crystal Silicon Wire in AFM Bending Test at Intermediate Temperatures"Journal of Micro electro mechanical systems. IEEE/ASME, Vol.11, No.2. 125-135 (2002)
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Takahiro Namazu、Yoshitada Isono、Takeshi Tanaka：“中温 AFM 弯曲测试中纳米单晶硅线的塑性变形”微机电系统杂志。
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