Sample preparation for analytical scanning electron microscopy using initial notch sectioning.
Sample preparation for analytical scanning electron microscopy using initial notch sectioning.
复制标题
使用初始切口切片进行分析扫描电子显微镜样品制备
DOI：
10.1016/j.micron.2021.103090
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
2.4
通讯作者：
Th. Höche
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Busch;C. Tielemann;S. Reinsch;R. Müller;C. Patzig;M. Krause;Th. Höche
