Nakahata, K., Onishi, M., Kitahara, M.: "Application of linearized inverse scattering methods to the material with flat measurement surface"Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. Vol.22(In press). (2003)
Nakahata, K., Onishi, M., Kitahara, M.: "Application of linearized inverse scattering methods to the material with flat measurement surface"Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. Vol.22(In press). (2003)
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Nakahata, K.、Onishi, M.、Kitahara, M.：“线性化逆散射方法在具有平坦测量表面的材料中的应用”定量无损评估进展综述。
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