M.Kiguchi, M.Nakayama, K.Fujiwara, K.Ueno, T.Shimada, K.Saiki: "Accumulation and depletion layer thicknesses in organic field effect transistors"Jpn.J.Appl.Phys.. 42. L1408-L1410 (2003)
M.Kiguchi, M.Nakayama, K.Fujiwara, K.Ueno, T.Shimada, K.Saiki: "Accumulation and depletion layer thicknesses in organic field effect transistors"Jpn.J.Appl.Phys.. 42. L1408-L1410 (2003)
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M.Kiguchi、M.Nakayama、K.Fujiwara、K.Ueno、T.Shimada、K.Saiki：“有机场效应晶体管中的累积层和耗尽层厚度”Jpn.J.Appl.Phys.. 42. L1408-L1410
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