Extending OPMISR beyond 10x Scan Test Efficiency

Extending OPMISR beyond 10x Scan Test Efficiency
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将 OPMISR 扫描测试效率提升至 10 倍以上

DOI：
10.1109/mdt.2002.1033794
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发表时间：
2002
期刊：
IEEE Des. Test Comput.
影响因子：
--
通讯作者：
Takeshi Onodera
Takeshi Onodera
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
C. Barnhart;Vanessa Brunkhorst;Frank Distler;Owen Farnsworth;A. Ferko;B. Keller;David Scott;Bernd Könemann;Takeshi Onodera

文献摘要

被引文献

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