Atomic resolution imaging of topography and optical near-field on insulating surface
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复制标题
绝缘表面形貌和光学近场的原子分辨率成像
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Yamanishi;Y. Naitoh;Y. J. Li;Y. Sugawara
