Electron Differential Microscopy with an A-B Effect Phase Plate
Electron Differential Microscopy with an A-B Effect Phase Plate
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使用 A-B 效应相位板的电子微分显微镜
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Tanji,T.Ishida and W. Li
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Fujita ;K. Morimoto;G. Allison;S. Teraoka;H. Kiyama;M. Larsson;A. Ludwig;A. D. Wieck;A. Oiwa ;and S. Tarucha;松高政・絹田昌代;T.Tanji,T.Ishida and W. Li
