Probing the Electron Beam-Induced Structural Evolution of Halide Perovskite Thin Films by Scanning Transmission Electron Microscopy
Probing the Electron Beam-Induced Structural Evolution of Halide Perovskite Thin Films by Scanning Transmission Electron Microscopy
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通过扫描透射电子显微镜探测卤化物钙钛矿薄膜的电子束诱导结构演化
DOI：
10.1021/acs.jpcc.1c02156
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发表时间：
2021-05
影响因子：
3.7
通讯作者：
Van Tendeloo Gustaaf
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhou Xian-Gang;Yang Chen-Quan;Sang Xiahan;Li Wei;Wang Li;Yin Zhi-Wen;Han Jing-Ru;Li Yu;Ke Xiaoxing;Hu Zhi-Yi;Cheng Yi-Bing;Van Tendeloo Gustaaf
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