三浦克介: "光学顕微鏡およびFIB加工装置を利用した多層構造標準セル設計VLSIの逆設計システム"LSIテステイングシンポジウム/2001. 63-68 (2001)
三浦克介: "光学顕微鏡およびFIB加工装置を利用した多層構造標準セル設計VLSIの逆設計システム"LSIテステイングシンポジウム/2001. 63-68 (2001)
复制标题
Katsusuke Miura:“使用光学显微镜和 FIB 处理设备的多层标准单元设计 VLSI 的逆向设计系统”LSI 测试研讨会/2001(2001)。
DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
中科院分区:
文献类型:
--
作者: