マイクロチャンネル断面内の虚部インピーダンス変化を利用した死細胞率の可視・定量化

マイクロチャンネル断面内の虚部インピーダンス変化を利用した死細胞率の可視・定量化
复制标题

利用微通道横截面内虚数阻抗的变化来可视化和量化细胞死亡率

DOI:
--
复制
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
武居 昌宏
武居 昌宏
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
西林 健人;川嶋 大介;Liu Xiayi;小原 弘道;武居 昌宏

文献摘要

相似文献