Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
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使用混合原子力显微镜-扫描电化学显微镜 (AFM-SECM) 探测纳米材料的表面电化学活性
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Xiaonan Shi, Qingquan Ma
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xiaonan Shi, Qingquan Ma
