An effect of probe current on ADF image intensity of Si crystal
An effect of probe current on ADF image intensity of Si crystal
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探针电流对硅晶体 ADF 图像强度的影响
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Tanishiro and K. Takayanagi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Kim;Y. Oshima;Y. Tanishiro and K. Takayanagi
