Hisao Sato: "XPS measurement of valence band discontinuity at GaP/GaN heterointerfaces" Solid State Electronics. 46・2. 205-207 (1997)
Hisao Sato: "XPS measurement of valence band discontinuity at GaP/GaN heterointerfaces" Solid State Electronics. 46・2. 205-207 (1997)
复制标题
佐藤久雄：“GaP/GaN 异质界面价带不连续性的 XPS 测量”《固态电子》46・2（1997 年）。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
