Estimation of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in Logic Cells from High-Energy Heavy-Ion-Induced Transient Current in a Single MOSFET
Estimation of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in Logic Cells from High-Energy Heavy-Ion-Induced Transient Current in a Single MOSFET
复制标题
从单个 MOSFET 中的高能重离子感应瞬态电流估计逻辑单元中的数字单粒子瞬态脉冲宽度
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T.Makino;et al.
