Grazing-Incidence Small-Angle X-ray Scattering Imaging using X-ray Grating Interferometry ― Toward Less Than 100 Nanometer Scale
Grazing-Incidence Small-Angle X-ray Scattering Imaging using X-ray Grating Interferometry ― Toward Less Than 100 Nanometer Scale
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使用 X 射线光栅干涉测量法进行掠入射小角 X 射线散射成像——迈向小于 100 纳米尺度
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Akihisa Takeuchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wataru Yashiro;Kosuke Kato;Susumu Ikeda;Yasuo Wada;Yoshio Suzuki;and Akihisa Takeuchi
