Fitting tomography-based transmission electron microscopy (TEM) to structural material problems: toward effective 3D TEM imaging and analysis
Fitting tomography-based transmission electron microscopy (TEM) to structural material problems: toward effective 3D TEM imaging and analysis
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将基于断层扫描的透射电子显微镜 (TEM) 应用于结构材料问题：实现有效的 3D TEM 成像和分析
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Murayama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Hata;R. Akiyoshi;K. Ogata;M. Mitsuhara;K. Ikeda;H. Nakashima;S. Matsumura;M. Doi;M. Murayama
