アンモニアIRMS-TPD法によるアルミナ担持シリカ薄層上のブレンステッド・ルイス酸点の定量
アンモニアIRMS-TPD法によるアルミナ担持シリカ薄層上のブレンステッド・ルイス酸点の定量
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氨 IRMS-TPD 法测定氧化铝负载二氧化硅薄层上的 Brønsted-Lewis 酸位
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
片田直伸
中科院分区：
文献类型：
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作者：
魚住尚生;片田直伸
