THICKNESS DEPENDENCE OF THE CRITICAL CURRENT IN YBa2Cu3Oy FILMS BY USING Nd : YAG-PLD METHOD
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使用 Nd : YAG-PLD 方法研究 YBa2Cu3Oy 薄膜中临界电流的厚度依赖性
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他3名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Yoshimura;Y.Ichino;Y.Yoshida;Y.Takai;他3名
