Ichiro Tanaka, I. Kamiya, H. Sakaki, M. Fujimoto: "Surface potential measurement of self-assembled InAs dots by scanning Maxwell microscopy"PHYSICAE. 7. 373-376 (2000)
Ichiro Tanaka, I. Kamiya, H. Sakaki, M. Fujimoto: "Surface potential measurement of self-assembled InAs dots by scanning Maxwell microscopy"PHYSICAE. 7. 373-376 (2000)
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Ichiro Tanaka、I. Kamiya、H. Sakaki、M. Fujimoto：“通过扫描麦克斯韦显微镜测量自组装 InAs 点的表面电位”PHYSICAE。
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