T.Nishida, S.Okamura, T.Shiosaki: "INVESTIGATION OF DERADATION MECHANISM ON PZT THIN FILMS BY TSC METHOD"The 13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics. (to be published). (2002)

T.Nishida, S.Okamura, T.Shiosaki: "INVESTIGATION OF DERADATION MECHANISM ON PZT THIN FILMS BY TSC METHOD"The 13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics. (to be published). (2002)
复制标题

T.Nishida、S.Okamura、T.Shiosaki:“通过 TSC 方法研究 PZT 薄膜上的去磨损机制”第 13 届国际集成铁电体研讨会。

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献