Effect of specimen processing for transmission electron microscopy on lattice spacing variation in Si specimens
Effect of specimen processing for transmission electron microscopy on lattice spacing variation in Si specimens
复制标题
透射电子显微镜样品处理对硅样品晶格间距变化的影响
DOI：
10.1016/j.ultramic.2022.113537
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
Yamamoto Kazuhiro
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kobayashi Keita;Misumi Ichiko;Yamamoto Kazuhiro
