Constrained codes for reliable flash memories
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可靠闪存的约束代码
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takahiro Ota and Hiroyoshi Morita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akiko Manada;Takahiro Ota and Hiroyoshi Morita
