A New Experimental Method for Depth Profiling Core Energy Levels : Application to the Electronic Structure of Buried Organic/Metal Interfaces
A New Experimental Method for Depth Profiling Core Energy Levels : Application to the Electronic Structure of Buried Organic/Metal Interfaces
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深度分析核心能级的新实验方法：应用于埋藏有机/金属界面的电子结构
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Naoki Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroyuki Yoshida;Eisuke Ito;Masahiko Hara;Naoki Sato
