残余应力对激光激发超声表面波技术检测二氧化硅体材料杨氏模量的影响

残余应力对激光激发超声表面波技术检测二氧化硅体材料杨氏模量的影响
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DOI:
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发表时间:
2017
期刊:
激光与光电子学进展
影响因子:
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通讯作者:
孔涛
孔涛
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
睢晓乐;肖夏;戚海洋;孔涛

文献摘要

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